美国 MAS Zeta-APS 纳米粒径分析仪
结合超声波衰减与电动声波振福技术，有效量测粒径分部与界达电位。
產品特点：
1) 能分析多种分散物的混合体
2) 无需依赖Double Layer模式，精确地判定等电点
3) 可适用于高导电(highly conducting)体系
4) 可排除杂质及对样品污染的干扰
5) 可精确测量无水体系
6) Zeta电位测试采用多频电声测量技术，无需先测量粒度即可进行电位测量
7) 样品的最高浓度可达60%(体积比)，被测样品无需稀释，对浓缩胶体和乳胶可进行直接测量
8) 具有自动电位滴定功能
典型应用：
综合稳定水泥浆，陶瓷，化学机械研磨，煤浆，涂料，化妆品，环境保护禅选法矿物富集，食品工业，乳胶，微乳，混合分散体系，纳米粉，无水体系，油漆成像材料。
1) 所检测粒径范围宽：从5 nm至1000um
2) 可测量参数：粒度分布、固含量、Zeta电位、等电点IEP、E5A、电导率、PH、温度、声衰减
3) Zeta电位测量范围：+/-200 mv，低表面电荷(可低至0. 1mv)，高精度(±0.1mv)
4) 零表面电荷条件下也可测量粒径
5) 允许样品浓度：0.1-60%(体积百分数)
6) 样品体积：30-230ml
7) PH范围：0~14
8) 电导率范围：0~10 s/m
1) 被测样品无需稀释
2) 排除杂质及对样品污染的干扰
3) 不需定标
4) 能分析多种分散物的混合体
5) 高精度
6) 所检侧粒径范围款从5 nm至1000um
1) 无需定标
2) 能测更宽的粒径范围
3) 无需依赖Double Layer模式
4) 无需依赖( electric surface properties)电表面特牲
5) 零表面电荷条件下也可测量粒径
6) 可适用于无水体系
7) 可适用于高导电(highly conducting)体系
1) 无需稀释，固合量高达60%
2) 可排除杂质及对样品污染的干扰
3) 高精度(±0.1mv)
4) 低表面电荷(可低至0. 1mv)
5) electrosmotic flow不影响测量
6) 对流(convection)不影响测量
7) 可精确测量无水体系
