美国MAS品牌 Zeta-APS纳米粒径分析仪

 

原理: 结合超声波衰减与电动声波振福技术,有效量测粒径分部与界达电位。

產品特点:

1)能分析多种分散物的混合体;

2)无需依赖Double Layer模式,精确地判定等电点;

3)可适用于高导电(highly conducting)体系;

4)可排除杂质及对样品污染的干扰;

5)可精确测量无水体系;

6)Zeta电位测试采用多频电声测量技术,无需先测量粒度即可进行电位测量;

7)样品的最高浓度可达60%(体积比),被测样品无需稀释,对浓缩胶体和乳胶可进行直接测量;

8)具有自动电位滴定功能;

技术参数:

1)所检测粒径范围宽:从5 nm至1000um;

2)可测量参数:粒度分布、固含量、Zeta电位、等电点IEP、E5A、电导率、PH、温度、声衰减;

3)Zeta电位测量范围:+/-200 mv,低表面电荷(可低至0. 1mv),高精度(±0.1mv);

4)零表面电荷条件下也可测量粒径;

5)允许样品浓度:0.1-60%(体积百分数);

6)样品体积:30-230ml;

7)PH范围:0~14;

8)电导率范围:0~10 s/m

优于光学方法的技术优势:

1)被测样品无需稀释;

2)排除杂质及对样品污染的干扰;

3)不需定标;

4)能分析多种分散物的混合体;

5)高精度;

6)所检侧粒径范围款从5 nm至1000um

优于electroactics方法的技术优势:

1)无需定标;

2)能测更宽的粒径范围;

3)无需依赖Double Layer模式

4)无需依赖( electric surface properties)电表面特牲;

5)零表面电荷条件下也可测量粒径;

6)可适用于无水体系;

7)可适用于高导电(highly conducting)体系;

优于微电泳方法的技术优势:

1)无需稀释,固合量高达60%;

2)可排除杂质及对样品污染的干扰;

3)高精度(±0.1mv);

4)低表面电荷(可低至0. 1mv);

5)electrosmotic flow不影响测量;

6)对流(convection)不影响测量;

7)可精确测量无水体系;

典型应用

综合稳定水泥浆,陶瓷,化学机械研磨,煤浆,涂料,化妆品,环境保护禅选法矿物富集,食品工业,乳胶,微乳,混合分散体系,纳米粉,无水体系,油漆成像材料。 

产品

创新材料研发必备的仪器设备含: 真空溅镀激光分子束外延系统;反射式静态和动态超高速记录动态三维形貌显微镜...

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展望

引进尖端专业高科技分析仪器设备的使命, 如; 薄膜成长 PLD-MBE、分析检测设备用在光电、生物、半导体感测组件、与自动化感测组件...

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